Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph
Newbury, Dale
Joy, David C.
Michael, Joseph
Ritchie, Nicholas W.M.
Scott, John Henry
103,99 €(IVA inc.)
- ISBN: 978-1-493-96674-5
- Editorial: Springer
- Encuadernacion: Cartoné
- Páginas: 700
- Fecha Publicación: 24/12/2016
- Nº Volúmenes: 1
- Idioma: Inglés