Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices

Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices

Grasser, Tibor

103,99 €(IVA inc.)
  • ISBN: 978-3-319-35912-0
  • Editorial: Springer
  • Encuadernacion: Rústica
  • Páginas: 517
  • Fecha Publicación: 24/09/2016
  • Nº Volúmenes: 1
  • Idioma: Inglés